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3535日本日置HIOKI3535LCR测试仪3535日本日置HIOKI3535LCR测试仪
高速LCR仪，采样率可高至120MHz
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- 100kHz～120MHz的宽频带
- 高速LCR测试（6ms/采样）
- 拆卸式前置放大器可选择
- 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
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不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头。
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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测量参数
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|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
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前置放大器
决定的测量量程
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前置放大器
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9700-01
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9700-02
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9700-03
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Z和R
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100mΩ～1kΩ
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500Ω～10kΩ
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5kΩ～100kΩ
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C
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1.33pF～15.9μF
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0.133pF～3.18nF
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0.1pF～318pF
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L
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1nH～1.59mH
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663nH～15.9mH
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6.63μH～159mH
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θ
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-180.00°～180.00°
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测量频率
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量程
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100kHz～120MHz
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分辨率设置
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4位（使用前控制板设置）
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100.0kHz～1.000MHz
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100Hz幅度
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1.000MHz～10.00MHz
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1kHz幅度
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10.00MHz～100.0MHz
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10kHz幅度
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100.0MHz～120.0MHz
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100kHz幅度
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使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
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精度
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*大 ± 0.005%，相对于设置值
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测量电平
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开路接口电压（V）
和恒压（CV）模式
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5mV～1V,*大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,*大10mA（10.01MHz以上）
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分辨率
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1mV幅度
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精度
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±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数)
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恒流（CC）模式
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200μA～20mA,*大1V（10.00MHz以下）
200μA～10mA,*大0.5V（10.01MHz以上）
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分辨率
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10A幅度
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精度
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±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数)
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基本精度
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Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°
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输出阻抗
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50Ω ± 10Ω（100kHz时）
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监视
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电压 0.000V～1.000V
电流 0.000mA～20.0mA
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限制
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电压（设置为CC） 0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA
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平均
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关，2，4，8，16，32，64
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触发
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内置触发器，外置触发器
触发延时 0.01s～9.99s；0.01s分辨率
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比较
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可得到两组测量参数：百分比，△%，或**值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差）
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控制盘存储和调用
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*多30组
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屏幕显示
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测量值和比较器的判断结果
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显示线数
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可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同
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打印
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拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
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接口
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GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
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操作环境
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10～40°C，*大80%rh，无凝结
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仓储环境
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-10～55°C，*大80%rh，无凝结
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供电电源
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交流100V～240V，50/60Hz，约50VA
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体积及重量
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约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg
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3535日本日置HIOKI3535LCR测试仪
3535日本日置HIOKI3535LCR测试仪
